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曉INSIGHT 鍍層分析儀使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集并匯聚成微束斑，照射在樣品位置，從而獲得良好的空間分辨率及很強(qiáng)的熒光信號(hào)，通過(guò)能譜探頭及后續(xù)的數(shù)據(jù)處理器等采集、處理并評(píng)價(jià)樣品被輻照后產(chǎn)生的熒光信號(hào)，得出樣品的成分信息。它可實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜應(yīng)用的快速測(cè)量和精準(zhǔn)分析，是對(duì)不均勻或形狀不規(guī)則的未知樣品以及微觀物體進(jìn)行元素分析的理想方法。
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鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。
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1663產(chǎn)品描述
鍍層分析儀,X射線熒光測(cè)厚儀適用于鍍層厚度測(cè)量及材料分析，具有無(wú)損，可靠，高生產(chǎn)力，高靈活性等優(yōu)點(diǎn)，可用來(lái)定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量，廣泛應(yīng)用于電路板、半導(dǎo)體、電鍍、五金產(chǎn)品、汽車(chē)零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等工業(yè)中的功能性鍍層電鍍槽液中的成分濃度分析。